The effect of thickness on surface structure of rf sputtered TiO2 thin films by X-ray photoelectron spectroscopy, atomic force microscopy and scanning acoustic microscopy
VACUUM, cilt.182, ss.109766, 2020 (SCI-Expanded)
- Yayın Türü: Makale / Tam Makale
- Cilt numarası: 182
- Basım Tarihi: 2020
- Dergi Adı: VACUUM
- Derginin Tarandığı İndeksler: Science Citation Index Expanded (SCI-EXPANDED)
- Sayfa Sayıları: ss.109766
- Acıbadem Mehmet Ali Aydınlar Üniversitesi Adresli: Hayır