The effect of thickness on surface structure of rf sputtered TiO2 thin films by X-ray photoelectron spectroscopy, atomic force microscopy and scanning acoustic microscopy

Tanoren B.

VACUUM, cilt.182, ss.109766, 2020 (SCI-Expanded)

  • Yayın Türü: Makale / Tam Makale
  • Cilt numarası: 182
  • Basım Tarihi: 2020
  • Dergi Adı: VACUUM
  • Derginin Tarandığı İndeksler: Science Citation Index Expanded (SCI-EXPANDED)
  • Sayfa Sayıları: ss.109766
  • Acıbadem Mehmet Ali Aydınlar Üniversitesi Adresli: Hayır